仪器厂商和型号

TecnaiF30美国FEI

仪器设备性能参数

加速电压：

300KV；电子枪：肖特基场发射电子枪。

分 辨 率：

点分辨率：0.205nm；线分辨率：0.102nm；信息分辨率：0.14nm；HR STEM分辨率：0.14nm；EELS分辨率：0.65eV；EDX分辨率：1.35eV。

最大倍数：

TEM 模式60X-1000KX； HAADF STEM模式200X-100MX。

主要附件：

Gatan 电子能量过滤系统（GIF）；EDAX X射线能谱仪；STEM扫描透射系统；HAADF高角环形暗场探头；Gatan894Ultriscan CCD ;Gatan963 Ultriscan CCD ；Lorentz电磁透镜。

仪器设备功能用途

可以实现形貌观察、选区衍射、高分辨成像、原子序数衬度成像、能量过滤成像、磁畴观察、能谱和能量损失谱测定等功能，具有强大的分析能力。可以在原子尺度的分辨率下对材料进行形貌、结构和相组织的观察与分析，以及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。