仪器厂商和型号

依科视朗YXLONFF35

仪器设备性能参数

 原理：

X射线三维成像检测系统，利用X射线的穿透能力，且穿透不同密度的物质时衰减不同，拍摄一系列不同角度以及不同剖层的透视图像，再通过三维重构软件合成为三维图像数据，即可在任意位置、任意方向进行虚拟剖切观察。

 主要参数：

225kV微焦点折射X射线探头、190kV微焦点透射X射线探头，高分辨率成像面板Y.Panel 2530，225V射线防护铅房，VGStudio MAX3.2分析软件，高分辨率、高功率靶材、螺旋、扩展和DR功能，CT重建工作站，操作台等；

 分辨能力：

      Y.FXE225.48折射管：最大管电压225KV， 最高功率320W ，空间分辨率≤4μm, 最小缺陷检测能力3μm；

      Y.FXE190.51穿透管：最大管电压160KV，最高功率64W空间分辨率≤0.6μm，最小缺陷检测能力150nm

      测量矿石等样品密度低的样品，尺寸尽量小；

仪器设备功能用途

主要应用于汽车、航空航天、医疗材料、材料科学、石油地质、生物类、电子元器件、3D打印等行业无损检测分析，通过微焦点X射线扫描，计算机三维重构，对样品中的夹杂物、气泡、裂纹缺陷进行缺陷探测、材料分析、CT计量等分析。

样品要求

提供以下信息：样品材质、样品尺寸、样品照片，

整体扫描分辨率要求（μm）：≈直径或最厚尺寸（μm）/2000

最大部件尺寸：直径或最厚边≤200mm，高度≤500mm；

最大部件重量：5kg

最小体素尺寸~1μm/~270μm

仪器设备对外服务项目

（1）基础服务：提供样品内部三维结构图像数据；

（2）高级服务：提供特定样品的数据分析；

（3）系统定制：为工业用户定制个性化的CT检测仪器及解决方案。